C'est énorme. Un saut de 1000× dans la détection des défauts cachés qui dégradent les puces et les matériaux solaires. "Des chercheurs ont développé une nouvelle technique de photo-Hall résolue par porteur qui révèle des défauts de piège électronique avec une sensibilité jusqu'à 1000× supérieure à celle des méthodes traditionnelles." "L'approche utilise des champs magnétiques, une exposition contrôlée à la lumière et des variations de température pour cartographier comment les électrons passent d'un état piégé à un mouvement libre, permettant une extraction précise de la densité de piège, de la mobilité, de la durée de vie des porteurs et de la longueur de diffusion en une seule mesure." "Elle a d'abord été testée sur du silicium puis sur des pérovskites, la méthode a révélé des quantités extrêmement petites de défauts que les outils standards échouent à détecter." "Les puces modernes et les matériaux solaires échouent ou sous-performent en grande partie à cause de minuscules pièges électroniques qui sont presque impossibles à détecter avec des outils standards. Les ingénieurs peuvent enfin voir et quantifier les défauts qui limitent discrètement l'efficacité, la fiabilité et la stabilité à long terme."