Esto es enorme. Un salto del 1000× en la detección de los defectos ocultos que degradan chips y materiales solares. "Los investigadores han desarrollado una nueva técnica de efecto fotoHall resuelto por portadora que revela defectos de trampa electrónica con hasta un 1000× mayor de sensibilidad que los métodos tradicionales." "El enfoque utiliza campos magnéticos, exposición controlada a la luz y cambios de temperatura para mapear cómo los electrones pasan de estar atrapados a moverse libremente, permitiendo la extracción precisa de la densidad de la trampa, movilidad, vida útil del portador y duración de difusión en una sola medición." "Se prueba primero en silicio y luego en perovskitas, el método expuso cantidades extremadamente pequeñas de defectos que las herramientas estándar no detectan." "Los chips modernos y los materiales solares fallan o rinden por debajo del rendimiento en gran parte debido a pequeñas trampas electrónicas que son casi imposibles de detectar con herramientas estándar. Los ingenieros finalmente pueden ver y cuantificar los defectos que limitan silenciosamente la eficiencia, la fiabilidad y la estabilidad a largo plazo."