Dit is enorm. Een sprong van 1000× in het detecteren van de verborgen defecten die chips en zonne-materialen aantasten. "Onderzoekers hebben een nieuwe carrier-resolved photo-Hall effect techniek ontwikkeld die elektronische valdefecten onthult met tot 1000× hogere gevoeligheid dan traditionele methoden." "De aanpak maakt gebruik van magnetische velden, gecontroleerde lichtblootstelling en temperatuurveranderingen om in kaart te brengen hoe elektronen overgaan van gevangen te zijn naar vrij bewegen, waardoor nauwkeurige extractie van valdichtheid, mobiliteit, levensduur van carriers en diffusielengte in een enkele meting mogelijk is." "Het is eerst getest op silicium en daarna op perovskieten; de methode onthulde extreem kleine hoeveelheden defecten die standaardtools niet kunnen detecteren." "Moderne chips en zonne-materialen falen of presteren ondermaats grotendeels vanwege kleine elektronische valstrikken die bijna onmogelijk te detecteren zijn met standaardtools. Ingenieurs kunnen eindelijk de defecten zien en kwantificeren die stilletjes de efficiëntie, betrouwbaarheid en langetermijnstabiliteit beperken."