Det här är enormt. Ett 1000× hopp i att upptäcka de dolda defekter som bryter ner chip och solmaterial. "Forskare har utvecklat en ny bärarupplöst fotohalleffekt-teknik som avslöjar elektronfälldefekter med upp till 1000× högre känslighet än traditionella metoder." "Metoden använder magnetfält, kontrollerad ljusexponering och temperaturskiften för att kartlägga hur elektroner går från att vara fångade till att röra sig fritt, vilket möjliggör exakt extraktion av fälldensitet, rörlighet, bärarens livslängd och diffusionslängd i en enda mätning." "Den testas först på kisel och sedan på perovskiter, metoden exponerade extremt små mängder defekter som standardverktyg misslyckas med att upptäcka." "Moderna chip och solmaterial går sönder eller presterar dåligt, till stor del på grund av små elektroniska fällor som är nästan omöjliga att upptäcka med standardverktyg. Ingenjörer kan äntligen se och kvantifiera de defekter som tyst begränsar effektivitet, tillförlitlighet och långsiktig stabilitet."