Điều này thật lớn. Một bước nhảy 1000× trong việc phát hiện các khuyết tật ẩn giấu làm giảm chất lượng của chip và vật liệu năng lượng mặt trời. "Các nhà nghiên cứu đã phát triển một kỹ thuật hiệu ứng photo-Hall phân giải carrier mới, cho phép phát hiện các khuyết tật bẫy điện tử với độ nhạy cao hơn gấp 1000 lần so với các phương pháp truyền thống." "Phương pháp này sử dụng các trường từ, ánh sáng được kiểm soát và sự thay đổi nhiệt độ để lập bản đồ cách mà các electron chuyển từ trạng thái bị bẫy sang di chuyển tự do, cho phép trích xuất chính xác mật độ bẫy, độ di động, thời gian sống của carrier và chiều dài khuếch tán trong một lần đo." "Nó được thử nghiệm đầu tiên trên silicon và sau đó trên perovskites, phương pháp này đã phát hiện ra những lượng khuyết tật cực kỳ nhỏ mà các công cụ tiêu chuẩn không thể phát hiện." "Các chip hiện đại và vật liệu năng lượng mặt trời thất bại hoặc hoạt động kém chủ yếu là do những bẫy điện tử nhỏ bé mà gần như không thể phát hiện bằng các công cụ tiêu chuẩn. Các kỹ sư cuối cùng có thể nhìn thấy và định lượng các khuyết tật mà âm thầm giới hạn hiệu suất, độ tin cậy và sự ổn định lâu dài."