Questo è enorme. Un salto di 1000× nella rilevazione dei difetti nascosti che degradano i chip e i materiali solari. "I ricercatori hanno sviluppato una nuova tecnica di effetto foto-Hall risolto per portatori che rivela difetti di trappola elettronica con una sensibilità fino a 1000× superiore rispetto ai metodi tradizionali." "L'approccio utilizza campi magnetici, esposizione controllata alla luce e variazioni di temperatura per mappare come gli elettroni passano da uno stato intrappolato a uno stato di movimento libero, consentendo l'estrazione precisa della densità di trappola, mobilità, durata del portatore e lunghezza di diffusione in una singola misurazione." "È stato testato prima sul silicio e poi sui perovskiti; il metodo ha rivelato quantità estremamente piccole di difetti che gli strumenti standard non riescono a rilevare." "I chip moderni e i materiali solari falliscono o non funzionano a pieno regime principalmente a causa di piccole trappole elettroniche che sono quasi impossibili da rilevare con strumenti standard. Gli ingegneri possono finalmente vedere e quantificare i difetti che limitano silenziosamente l'efficienza, l'affidabilità e la stabilità a lungo termine."