Isso é enorme. Um salto de 1000× na detecção dos defeitos ocultos que degradam chips e materiais solares. "Pesquisadores desenvolveram uma nova técnica de foto-efeito Hall resolvida por portador que revela defeitos eletrônicos de armadilhas com até 1000× maior sensibilidade do que os métodos tradicionais." "A abordagem utiliza campos magnéticos, exposição controlada à luz e mudanças de temperatura para mapear como os elétrons passam de presos para se mover livremente, permitindo extração precisa da densidade da armadilha, mobilidade, vida útil do portador e duração de difusão em uma única medição." "É testado primeiro em silício e depois em perovskitas, o método expôs quantidades extremamente pequenas de defeitos que as ferramentas padrão não conseguem detectar." "Chips modernos e materiais solares falham ou têm desempenho inferior em grande parte por causa de pequenas armadilhas eletrônicas que são quase impossíveis de detectar com ferramentas padrão. Os engenheiros finalmente podem ver e quantificar os defeitos que limitam silenciosamente a eficiência, a confiabilidade e a estabilidade a longo prazo."