これは大きなことです。チップや太陽光材料を劣化させる隠れた欠陥を検出するのに1000×のジャンプも必要です。 「研究者たちは、従来の手法よりも最大1000×高い感度で電子トラップ欠陥を明らかにする新しいキャリア分解フォトホール効果技術を開発しました。」 「この手法は磁場、制御された光の露出、温度変化を用いて電子が閉じ込められた状態から自由に移動する様子をマッピングし、トラップ密度、移動度、キャリア寿命、拡散長を単一の測定で正確に抽出することを可能にします。」 「まずシリコンで、次にペロブスカイトで試験されます。この方法は標準的な工具では検出できない極めて少量の欠陥を露呈させる方法です。」 「現代のチップや太陽電池は、標準的なツールではほとんど検出不可能な小さな電子トラップのせいで失敗または性能が低下します。エンジニアはついに、効率性、信頼性、長期的安定性を静かに制限する欠陥を視認し、定量化できるようになりました。」