Esto es enorme. Un salto de 1000× en la detección de los defectos ocultos que degradan los chips y los materiales solares. "Los investigadores han desarrollado una nueva técnica de efecto foto-Hall resuelto por portadores que revela defectos de trampa electrónica con hasta 1000× más sensibilidad que los métodos tradicionales." "El enfoque utiliza campos magnéticos, exposición controlada a la luz y cambios de temperatura para mapear cómo los electrones pasan de estar atrapados a moverse libremente, permitiendo la extracción precisa de la densidad de trampas, movilidad, tiempo de vida de los portadores y longitud de difusión en una sola medición." "Se probó primero en silicio y luego en perovskitas, el método expuso cantidades extremadamente pequeñas de defectos que las herramientas estándar no logran detectar." "Los chips modernos y los materiales solares fallan o rinden por debajo de lo esperado en gran medida debido a pequeñas trampas electrónicas que son casi imposibles de detectar con herramientas estándar. Los ingenieros finalmente pueden ver y cuantificar los defectos que limitan silenciosamente la eficiencia, la fiabilidad y la estabilidad a largo plazo."